समाचारं

한어Русский языкEnglishFrançaisIndonesianSanskrit日本語DeutschPortuguêsΕλληνικάespañolItalianoSuomalainenLatina

विक ये 叶明

भाषणविषयः : १.

Dynamic Read Retry Method —— 3D NAND Flash Memory कृते शून्यस्य समीपे पठनपुनः प्रयासं प्राप्तुं

मञ्चः एसएसडीटी-१०३-१: १.

SSD स्थायित्वं विश्वसनीयतां च सुधारयितुम् प्रौद्योगिकी

अमेरिकनसमयः : १.

६ अगस्त, अपराह्णे ३:४०-४:४५

स्थानम्‌:

सांता क्लारा सम्मेलन केन्द्रं, कैलिफोर्निया, अमेरिका

बालरूम F

देयिवेई भाषणस्य परिचयः

Deyiwei स्मृतिविश्लेषणविभागस्य निदेशकः : डॉ. ये मिनः वैश्विकभण्डारणकार्यक्रमे FMS 2024 इत्यस्मिन् "गतिशीलपठनपुनःप्रयासविधिः - 3D NAND Flashस्मृतेः कृते शून्यस्य समीपे पठनपुनःप्रयासः" इति विषये मुख्यभाषणं करिष्यति।

बहुविध-P/E-चक्रस्य अनुभवानन्तरं फ्लैश-स्मृति-भण्डारण-यन्त्राणां विश्वसनीयता न्यूनीभवति, यस्य परिणामेण त्रुटि-शुद्ध्यर्थं अधिक-पठन-पुनर्प्रयत्नस्य आवश्यकता भविष्यति, यस्य परिणामेण पठन-प्रदर्शने गम्भीरः न्यूनता भविष्यति अतः Read Retry पद्धतेः अनुकूलनं flash read performance कृते महत्त्वपूर्णम् अस्ति । डॉ. ये मिन् इत्यस्य भाषणं अस्मान् अभिनवगतिशीलं Read Retry पद्धतिं गभीररूपेण अन्वेष्टुं, 3D NAND इत्यस्य विश्वसनीयतां कथं सुधारयितुम् इति चर्चां विश्लेषणं च कर्तुं, 3D NAND इत्यस्य प्रायः 0 Read Retry प्राप्तुं च नेष्यति, येन भण्डारणनियन्त्रकस्य पठनप्रदर्शने बहुधा सुधारः भविष्यति तथा उत्तमं प्रदर्शनं प्राप्तुं कार्यप्रदर्शननियन्त्रणं तथा धारणप्रतिरोधी प्रबन्धनं प्रभावीरूपेण स्मृतिचिप्सस्य जीवनं कार्यक्षमतां च सुधारयति।

एफ एम एस २०२४

देयिवेई बूथ संख्या: # 750

समयः ६-८ अगस्त २०२४

स्थानम् : सांता क्लारा सम्मेलनकेन्द्रं, कैलिफोर्निया, अमेरिका

Deyiwei व्यापकरूपेण नवीनतम-उत्पादानाम् भण्डारण-समाधानस्य च पूर्ण-श्रेणीं प्रदर्शयिष्यति यत्र भण्डारण-नियन्त्रण-चिप्स्-स्मृतयः च सन्ति, तथा च नवीनतम-भण्डारण-प्रौद्योगिकी-अनुप्रयोग-परिणामान् साझां करिष्यति वैश्विक-उद्योग-साझेदारानाम् स्वागतं भवति यत् ते बूथ-स्थले भ्रमणं कर्तुं आदान-प्रदानं कर्तुं च शक्नुवन्ति।