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Lors de l'événement mondial sur le stockage FMS 2024, Deyiwei a prononcé un discours sur l'amélioration de la fiabilité de la 3D NAND.

2024-08-05

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Vic Ye 叶 明


le sujet du discours :

Méthode de nouvelle tentative de lecture dynamique — Obtention d'une nouvelle tentative de lecture proche de zéro pour la mémoire flash NAND 3D

Forum SSDT-103-1 :

Technologie pour améliorer la durabilité et la fiabilité des SSD

Heure américaine :

6 août, 15h40-16h45

Lieu:

Centre de congrès de Santa Clara, Californie, États-Unis

Salle de bal F

Introduction au discours de Deyiwei

Directeur du département d'analyse de la mémoire de Deyiwei : le Dr Ye Min prononcera un discours d'ouverture sur la « Méthode de tentative de lecture dynamique - Atteindre une nouvelle tentative de lecture proche de zéro pour la mémoire flash NAND 3D » lors de l'événement mondial de stockage FMS 2024.

La fiabilité des périphériques de stockage à mémoire flash diminuera après avoir subi plusieurs cycles P/E, ce qui nécessitera davantage de tentatives de lecture pour corriger les erreurs, ce qui entraînera une diminution importante des performances de lecture. Par conséquent, l’optimisation de la méthode Read Retry est essentielle aux performances de lecture flash. Le discours du Dr Ye Min nous amènera à explorer en profondeur la méthode innovante de nouvelle tentative de lecture dynamique, à discuter et à analyser comment améliorer la fiabilité de la NAND 3D et à atteindre presque 0 nouvelle tentative de lecture de la NAND 3D, améliorant ainsi considérablement les performances de lecture du contrôleur de stockage. et obtenir de meilleures performances. Le contrôle des performances et la gestion de la résistance à l'usure améliorent efficacement la durée de vie et les performances des puces mémoire.

FMS 2024


Numéro de stand Deyiwei : #750

Heure : du 6 au 8 août 2024

Lieu : Santa Clara Convention Center, Californie, États-Unis

Deyiwei présentera de manière exhaustive une gamme complète des derniers produits et solutions de stockage, notamment des puces de contrôle de stockage et des mémoires, et partagera les dernières technologies de stockage et les résultats des applications. Les partenaires industriels mondiaux sont invités à visiter le stand pour visiter et échanger.