Новости

한어Русский языкEnglishFrançaisIndonesianSanskrit日本語DeutschPortuguêsΕλληνικάespañolItalianoSuomalainenLatina

Вик Йе — 叶明

тема выступления:

Метод динамического повторного чтения — достижение практически нулевого повторного чтения для флэш-памяти 3D NAND

Форум SSDT-103-1:

Технология повышения долговечности и надежности твердотельных накопителей

Американское время:

6 августа, 15:40-16:45

Место:

Конференц-центр Санта-Клары, Калифорния, США

Бальный зал F

Введение в речь Дэйивэй

Директор отдела анализа памяти Deyiwei: Доктор Е Мин выступит с программной речью на тему «Метод динамического повтора чтения — достижение почти нулевого повтора чтения для флэш-памяти 3D NAND» на глобальном мероприятии по хранению данных FMS 2024.

Надежность устройств хранения флэш-памяти снижается после прохождения нескольких циклов P/E, что приводит к необходимости большего количества повторных попыток чтения для исправления ошибок, что приводит к серьезному снижению производительности чтения. Таким образом, оптимизация метода повторного чтения имеет решающее значение для производительности чтения флэш-памяти. Выступление доктора Е Мина побудит нас глубже изучить инновационный метод динамического повтора чтения, обсудить и проанализировать, как повысить надежность 3D NAND и добиться почти 0 повторных попыток чтения 3D NAND, тем самым значительно улучшив производительность чтения контроллера хранилища. и достижение более высокой производительности. Контроль производительности и управление износостойкостью эффективно продлевают срок службы и производительность микросхем памяти.

ФМС 2024

Номер стенда Дэйивэй: #750

Время: 6-8 августа 2024 г.

Место проведения: Конференц-центр Санта-Клары, Калифорния, США.

Deyiwei подробно представит полный спектр новейших продуктов и решений для хранения данных, включая микросхемы и память для управления хранилищем, а также поделится новейшими технологиями хранения и результатами применения. Глобальные отраслевые партнеры приглашаются посетить стенд для посещения и обмена опытом.